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產(chǎn)品概述：

冷熱沖擊試驗(yàn)箱機(jī)用來(lái)測(cè)試材料結(jié)構(gòu)或復(fù)合材料，在瞬間下經(jīng)極高溫及極低溫的連續(xù)環(huán)境下所能忍受的程度，借以在*短時(shí)間內(nèi)試驗(yàn)其熱脹冷縮所引起的化學(xué)變化或物理傷害。適用的對(duì)象包括金屬，塑料，橡膠，電子等材料，可作為其產(chǎn)品改進(jìn)的依據(jù)或參考。

該產(chǎn)品適用于電子元?dú)饧陌踩阅軠y(cè)試提供可靠性試驗(yàn)、產(chǎn)品篩選試驗(yàn)等，同時(shí)通過(guò)此裝備試驗(yàn)，可提高產(chǎn)品的可靠性和進(jìn)行產(chǎn)品的質(zhì)量控制。高低溫沖擊試驗(yàn)箱是航空、汽車(chē)、家電、科研等領(lǐng)域的測(cè)試設(shè)備，考核和確定電工電子、汽車(chē)部件、材料等產(chǎn)品，在進(jìn)行高低溫試驗(yàn)的溫度環(huán)境沖擊變化后的參數(shù)及性能、使用的適應(yīng)性；該設(shè)備廣泛適用于學(xué)校、工廠(chǎng)、軍工、研發(fā)等單位。

執(zhí)行標(biāo)準(zhǔn)：

GB11158-2008 高溫試驗(yàn)條技術(shù)條件

GB10589-2008 低濁試驗(yàn)箱技術(shù)條件

GB10592-2008 高低溫試驗(yàn)箱技術(shù)條件（濕度交變）

GB/T2423.1-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部份:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)A:低溫IEC 6008-2-1:2007

GB/T2423.2-2008電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部份:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)B:高溫IEC 6008-2-2:2007

GB/T2423.22-2002電工電子產(chǎn)品環(huán)境試驗(yàn) 第2部份:試驗(yàn)方法 試驗(yàn)N:溫度變化IEC 60068-2-14:1984

GJB150.3A-2009軍用裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 第3部份：高溫試驗(yàn)

GJB150.4A-2009軍用裝備實(shí)驗(yàn)室環(huán)境試驗(yàn)方法 第3部份：低溫試驗(yàn)

產(chǎn)品特點(diǎn)：

1.設(shè)備分為：高溫區(qū)、低溫區(qū)、測(cè)試區(qū)三部份，采獨(dú)特之?dāng)酂峤Y(jié)構(gòu)及蓄熱、蓄冷效果，應(yīng)用冷熱風(fēng)路切換方式導(dǎo)入試品中，做試驗(yàn)時(shí)自動(dòng)打開(kāi)高溫區(qū)與低溫區(qū)的風(fēng)閥從而達(dá)到高溫與低溫的沖擊試驗(yàn)，待測(cè)品為不移動(dòng)之方式。

2.采用LCD液晶觸摸屏中英文操作控制系統(tǒng)，操作簡(jiǎn)易，可設(shè)定、顯示各種運(yùn)行數(shù)據(jù)。

3.高溫沖擊或低溫沖擊時(shí)，*大時(shí)間可達(dá)999H，*大循環(huán)周期可達(dá)9999次。

4.系統(tǒng)可作自動(dòng)循環(huán)或手動(dòng)性沖擊并可設(shè)定二區(qū)或三區(qū)沖擊及冷沖、熱沖啟始。

5.冷卻采用二元冷凍系統(tǒng)，降溫效果快速，冷卻方式為水冷式。

6.具有RS-232通信接口裝置，可與計(jì)算機(jī)聯(lián)機(jī)操控、編輯、記錄及信號(hào)點(diǎn)狀態(tài)，使用便捷。

可擴(kuò)充：

液態(tài)氮低溫輔助系統(tǒng)

溫度自動(dòng)記錄器

操作記錄軟件

技術(shù)規(guī)格表：